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    電子元器件兼容高速掃描技術(shù)在PCB設(shè)計(jì)和調(diào)試中的應(yīng)用，能幫助及早發(fā)現(xiàn)問題，及時采取有效措施消除或抑制系統(tǒng)內(nèi)部和對外元器件兼容，確保產(chǎn)品EMC測試一次通過，從而加快產(chǎn)品設(shè)計(jì)進(jìn)程，在實(shí)際使用中，所有電子設(shè)備都會受到元器件兼容的影響，如果一個設(shè)備不能滿足抗影響要求，也不進(jìn)行屏蔽，那么該設(shè)備的性能就會受元器件兼容的影響。通過適當(dāng)修改上面提到的測量方法，在產(chǎn)品開發(fā)和測試階段就能夠正確評估產(chǎn)品的抗影響性能。電子元器件互相之間的兼容性，直接影響產(chǎn)品的質(zhì)量問題。